▲设备描述 

设备名称: 芯片动态老化测试系统 

设备型号： FLT-3101 

制 造 商: Bwin·必赢626net入口(中国区)官方网站 

 支持产品运行状态和测试数据实时图形化展示

 支持根据不同测试条件制定多步骤的测试计划，一键运行

 支持操作员、工程师、工程调试、系统管理多级权限和功能 控制

 支持 MES、SECS/GEM 接入和功能定制 

 支持测试程序中央服务器管控及下载

 支持根据异常场景分级执行继续、暂停、停止等策略

 支持厂务断电、急停、异常关闭软件等场景数据恢复和测试 恢复 

 支持异常信息汇总和查询

 支持测试腔体内恒温热风循环和腔体外水循环散热 

 支持单颗 socket 独立温度控制 

 支持电源加电时序配置和阶梯上电

 支持可配置的过压、欠压、过流等保护策略

 支持测试向量加载、输出及错误检测

 支持测试向量数据回读、解析及报表生成

 支持老化前根据电源和测试向量判断芯片的连接性

 支持测试数据及日志信息定时本地及中央服务器存储及备份