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强大的产品研发能力和创新能力

大 功 率 半 自 动Bar 条 测 试 机

产品特点>本设备为数据通信类DFB、EML 芯片Bar条自动测试系统,包含LV测试和光谱测试。>采用TEC+风冷的温控方式,温控范围15~90C,升降温速度快,温度稳定性高。> 支持芯片表面视觉检测,同时支持OCR ChiplD识别功能。> 测试速度快,单颗芯片测试时间小于6秒。
产品介绍
产品参数

   

> 本设备为数据通信类DFB、EML 芯片Bar条自动测试系统,包含LV测试和光谱测试。 > 采用TEC+ 风冷的温控方式,温控范围15~90C, 升降温速度快,温度稳定性高。

> 支持芯片表面视觉检测,同时支持OCR  ChiplD识别功能。 > 测试速度快,单颗芯片测试时间小于6秒。





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