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PRODUCT CENTER

强大的产品研发能力和创新能力

数据通信芯片Bar 条测试机

产品特点>本设备为数据通信类DFB、EML芯片Bar条自动测试系统，包含LV测试和光谱测试。>采用TEC+风冷的温控方式，温控范围15~90C, 升降温速度快，温度稳定性高。>支持芯片表面视觉检测，同时支持OCRChiplD识别功能。>测试速度快，单颗芯片测试时间小于6秒。

产品介绍

产品参数

产品特点

> 本设备为数据通信类DFB、EML 芯片Bar条自动测试系统，包含LV 测试和光谱测试。 > 采用TEC+风冷的温控方式，温控范围15~90C, 升降温速度快，温度稳定性高。

> 支持芯片表面视觉检测，同时支持OCRChiplD 识别功能。 > 测试速度快，单颗芯片测试时间小于6秒。

服务热线：

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