产 品 特 点

> 本设备为面向消费级VCSEL Array COB封装形态的老化可靠性测试系统。 > 支持CW 或QCw 测试，最小可支持脉宽10us,电流0~10A。

> 支持LV+ 光谱测试，FF测试、NF 测试(含M2 和发散角测试)。

> 模块化设计，三个测试模块可自由搭配不同测试模块，方便集成和维护。 > 全自主开发的测试软件，计算参数可根据客户需求定制。

> 兼 容Feedlitech 40pcs抽样COB 铜基板或者客户定制化COB 基板的测试。

> 使用水冷+TEC技术进行温度控制，温度可控范围大，且有极高的稳定性和准确性。 > 支持客户MES 系统的对接，保证数据的安全性和可追溯性。

> 优异的ESD 和EOS 防范措施，确保产品再测试过程中的安全性。