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硅光芯片耦合测试系统

产品特点> 本设备为硅光芯片自动上下料测试系统,采用多通道FAU耦合方式。>兼容直波导、斜波导等多种波导形态;可实现进出光同时耦合。>支持8pCSVR盒自动上下料,下料支持分BIN功能。>高精度耦合模块重复定位精度最高小于50nm, 确保耦合的准确性。>采用TEC+ 水冷的温控方式,升降温速度快,温度稳定性高。>配置灵活,参数亦可根据客户需求增减。> 支持链接客户MES系统,进行数据上传和导入。
产品介绍
产品参数

产品特点

> 本设备为硅光芯片自动上下料测试系统,采用多通道FAU 耦合方式。 > 兼容直波导、斜波导等多种波导形态;可实现进出光同时耦合。

>   8pCS VR盒自动上下料,下料支持分BIN 功能。

> 高精度耦合模块重复定位精度最高小于50nm,  确保耦合的准确性。 >  TEC+ 水冷的温控方式,升降温速度快,温度稳定性高。

> 配置灵活,参数亦可根据客户需求增减。

> 支持链接客户MES 系统,进行数据上传和导入。





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