产品特点

> 本设备为面向数据通信应用VCSEL 晶圆级别的测试系统 > 支持数通类VCSEL 芯片的LIV及光谱测试

> 支持小于1nA 的漏电流测试

> 全自主开发的测试软件，计算参数可根据客户需求定制 > 支持断点续测，坏点重测，连续同一失效模式报警

> 支持测试时间、数量、时间、稼动率、探针使用次数等信息统计 > 支 持mapping  选择缩圈、抽测、指定区域测试等功能

> 使用水冷+TEC技术进行温度控制，温度可控范围大，且有极高的稳定性和准确性 > 支持客户MES 系统的对接，保证数据的安全性和可追溯性

> 优异的ESD 和EO5 防范措施，确保产品再测试过程中的安全性