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PRODUCT CENTER
Tough capability of R&D and innovation

Chip tester

产品特点>本设备为面向DFB、EML等EEL数据通信类芯片的自动测试机。>支持低温,常温,高温三温测试(-40℃~85℃)。> 使用水冷+TEC技术进行温度控制,温度稳定性好,可控范围大;>支持LIV扫描测试、光谱测试和Far Field测试。>优异的光纤耦合系统,SMSR重复性优于1.5dB;>支持OCR识别功能,将chiplD和芯片数据绑定,提高可追溯性。>直动式设计,温度稳定性更好,测试速度更快(单颗5.5s)。>视觉定位+底座三轴摆正系统,芯片和载台无摩擦,大大提高载台的使用寿命。>操作软件稳定性高,界面友好,参数可根据客户需求定制...
Product Introduction
Product parameters

   

> 本设备为面向DFBEML EEL数据通信类芯片的自动测试机。 > 支持低温,常温,高温三温测试(-40℃~85℃)。

> 使用水冷+TEC 技术进行温度控制,温度稳定性好,可控范围大; >  LIV扫描测试、光谱测试和Far Field测试。

> 优异的光纤耦合系统,SMSR 重复性优于1.5dB;

>  OCR 识别功能,将chiplD 和芯片数据绑定,提高可追溯性。 > 直动式设计,温度稳定性更好,测试速度更快(单颗5.5s)

> 视觉定位+底座三轴摆正系统,芯片和载台无摩擦,大大提高载台的使用寿命。 > 操作软件稳定性高,界面友好,参数可根据客户需求定制。





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