产 品 特 点

> 本设备为数据通信类DFB、EML 芯片Bar条自动测试系统，包含LV 测试和光谱测试。 > 采 用TEC+风冷的温控方式，温控范围15~90C,  升降温速度快，温度稳定性高。

> 支持芯片表面视觉检测，同时支持OCRChiplD 识别功能。 > 测试速度快，单颗芯片测试时间小于6秒。